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標準參考物質(zhì) NIST SRM 2135c - Ni/Cr薄膜深度剖面

產(chǎn)品名稱:標準參考物質(zhì) NIST SRM 2135c - Ni/Cr薄膜深度剖面

英文名稱:Ni/Cr Thin Film Depth Profile

品牌:美國NIST標準物質(zhì)

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產(chǎn)品詳情
- COA - MSDS

NIST SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面(標準品)主要用于校準表面分析中的濺射深度標度和腐蝕速率。其周期性結(jié)構(gòu)由八個定義明確的金屬/金屬界面組成,可用于在多個深度獲得精確校準。 SRM 2135c 已通過總鉻 (Cr) 和鎳 (Ni) 厚度、單元素層間均勻性、Ni 和 Cr 雙層均勻性(周期性)和單層厚度 [1-3] 的認證。以質(zhì)量/面積為單位表示的認證厚度值在題為“認證值和不確定性”的部分中給出。


SRM 2135c 的一個單元由拋光的硅 (100) 基板上的九個交替金屬薄膜層、五層純鉻和四層純鎳組成。各個層的厚度通常為 57 nm(Cr 為 57 nm,Ni 為 56 nm)。經(jīng)認證的樣品面積由基材的全寬(1.0 厘米)和以 2.54 厘米長的基材為中心的 2.0 厘米長度確定(見圖 l)。



認證到期:

如果按照本證書中提供的說明處理、存儲和使用 NIST SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面(標準品),則本 SRM 的認證在規(guī)定的測量不確定度內(nèi)被視為是無限期的。但是,如果 SRM 被更改、污染或損壞,認證將失效。





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